創始人來自北大物理系，探真納米科技完成新一輪融資
近日，專攻原子力顯微鏡（AFM）探針研發的探真納米科技（衢州）有限公司完成新一輪股權融資，獲得衢州綠石新材料股權投資合伙企業（有限合伙）與杭州德甫股權投資有限責任公司共計超千萬元的投資。 據悉，融資輪次為Pre-A / A 輪，資金將重點優化探針的批量化制備工藝，提升產品穩定性和良率。此外還將用于原子力顯微鏡（AFM）探針的全品類研發與新產線的布置。 據悉，探真納米科技成立于2016年，位于浙江省衢州市，憑借其在微納加工領域多年的技術與工藝積累，通過基于干法刻蝕的創新微納加工工藝，實現了從晶圓起步的探針開發，在探針的曲率半徑、深寬比和使用壽命等關鍵指標上已部分處于國際領先水平。今年年初，公司自主研發的AFM探針產品已實現上市銷售。 原子力顯微鏡（AFM）是納米科技、材料科學，半導體工業以及生命科學等諸多領域不可或缺的高精度檢測儀器，在半導體制造中，AFM承擔著“質量把關”的角色，通過納米級別的探針對芯片進行精密掃描，判......閱讀全文
原子力顯微鏡（AFM）之納米加工
掃描探針納米加工技術是納米科技的核心技術之一，其基本的原理是利用SPM的探針－樣品納米可控定位和運動及其相互作用對樣品進行納米加工操縱，常用的納米加工技術包括：機械刻蝕、電致/場致刻蝕、浸潤筆等。
創始人來自北大物理系，探真納米科技完成新一輪融資
近日，專攻原子力顯微鏡（AFM）探針研發的探真納米科技（衢州）有限公司完成新一輪股權融資，獲得衢州綠石新材料股權投資合伙企業（有限合伙）與杭州德甫股權投資有限責任公司共計超千萬元的投資。 據悉，融資輪次為Pre-A / A 輪，資金將重點優化探針的批量化制備工藝，提升產品穩定性和良率。此外還將
納米顆粒喂蠕蟲可探細胞力
細胞產生的機械力被認為影響細胞和器官的功能，也與人類一些疾病相關。美國斯坦福大學日前發表的新聞公報顯示，其研究人員嘗試向蠕蟲喂食特制的納米顆粒來探測細胞力。這項跨學科研究有助于揭示細胞力如何在人體中發揮作用。 研究人員的最終目的是探測人體細胞產生的機械力。他們首先在通體透明的秀麗隱桿線蟲身上測
科普：納米顆粒喂蠕蟲可探細胞力
新華社舊金山１月２日電（記者馬丹）細胞產生的機械力被認為影響細胞和器官的功能，也與人類一些疾病相關。美國斯坦福大學日前發表的新聞公報顯示，其研究人員嘗試向蠕蟲喂食特制的納米顆粒來探測細胞力。這項跨學科研究有助于揭示細胞力如何在人體中發揮作用。 研究人員的最終目的是探測人體細胞產生的機械力。他們
原子力顯微鏡為什么是“原子力”
原子力顯微鏡也是運用了類似的原理。如果我們用一根探針來靠近某個物體的表面，當針尖與表面距離非常小時（一般在幾個納米左右），二者之間會存在一個微弱的相互作用。從圖2我們可以看到，針尖與物體表面之間的作用力大小和它們之間的距離直接相關，距離非常近時（一般小于零點幾納米）二者之間的力是相互排斥的，如果它們
原子力顯微鏡法測量納米粒子的尺寸
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy, AFM）是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscopy, STM）之后發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測。本標準文本將概述納
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)是在1986年由掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Mi-croscope,STM)的發明者之一的Gerd Binnig博士在美國斯坦福大學與Quate C F和Gerber C等人研制成功的一種新型的顯微鏡[1
原子力顯微鏡的力譜
原子力顯微鏡的另一個主要應用(除了成像)是力譜，它直接測量作為尖端和樣品之間間隙函數的尖端-樣品相互作用力(測量的結果稱為力-距離曲線)。對于這種方法，當懸臂的偏轉被監測為壓電位移的函數時，原子力顯微鏡的尖端向表面伸出或從表面縮回。這些測量已被用于測量納米接觸、原子鍵合、范德華力和卡西米爾力、液
探極風云－究真蒼穹
5月23日中午，我國13名科考隊員成功登頂珠穆朗瑪峰。這是2023年珠峰地區綜合考察研究中的峰頂科考。本次科考順利完成了極高海拔氣象站技術升級、雪冰樣品采集、冰芯鉆取、冰塔林無人機航測、溫室氣體探測、巖石樣品采集等10多項既定科考任務。
原子力顯微鏡概述
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
原子力顯微鏡概述
原子力顯微鏡(AFM)概述最早掃描式顯微技術(STM)使我們能觀察表面原子級影像，但是STM 的樣品基本上要求為導體，同時表面必須非常平整， 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各種掃描式探針顯微技術中，以原子力顯微鏡(AFM)應用是最為廣泛，AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力，所
原子力顯微鏡簡介
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
原子力顯微鏡特點
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的
相原子力顯微鏡
液相原子力顯微鏡(liquid cell Force Microscope )對生物分子研究而言，對DNA 基本結構及功能的了解一直是科學家追求目標，早在1953 年 DNA 雙螺旋結構的發現后，使人了解遺傳訊息如何在這當中傳送，并且也將生物研究推展到分子生物的領域，為了解個別分子的功能，許多解析分
原子力顯微鏡原理
?原子力顯微鏡是顯微鏡中的一種類型，應用范圍十分廣泛。原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器，很多人對原子力顯微鏡原理不太了解，下面小編就為大家介紹一下原子力顯微鏡原理、工作模式及應用領域。?? ? ??原子力顯微鏡原理? ? ? ?將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固
原子力顯微鏡簡介
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法
原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法。原子力顯微鏡探針包括探針本體和設置在探針本體的針尖一側的接觸體，接觸體具有連接段和接觸段，接觸段具有接觸端面；接觸段為二維材料，且接觸端面為原子級光滑且平整的單晶界面。本發明ZL技術的原子力顯微鏡探針可精確地檢測受測樣品的各種性質。介紹隨著微米納米科學
納米測量和成像完美工具：Nanite原子力顯微鏡系統
Nanite原子力顯微鏡系統是納米丈量和成像的完滿東西。該系統供給三維數據。原子力顯微鏡丈量性的，無需制備樣品。此外，機械活動平臺答應批量的，預編程丈量，利用大型花崗巖主動X/Y/Z樣品臺可測試尺寸達180mm樣品的分歧區域，用戶以至能夠定制更大的挪動樣品臺。Nanite設想矯捷、操作簡單，是您抱負
壓電納米定位產品在原子力顯微鏡中的應用舉例
以下為兩個簡單案例：圖1中，芯明天公司提供的產品為壓電陶瓷、Z軸壓電物鏡定位系統及XY軸二維壓電納米定位臺。設備原理為：原子力探針的針尖端部置于干涉顯微鏡的光軸上，產生干涉條紋由CCD接收，當XY二維壓電納米定位臺帶動樣件移動時，表面高度變化，引起原子力探針變化，其變化量由白光干涉條紋計量。當原子力
原子力顯微鏡作為納米技術分析工具有哪些特點
原子力顯微鏡以獨特的方式將先進技術與高時效操作相結合，高度自動化被植入到每一級操作中，使這款 AFM 成為廣大科研和工業用戶理想的納米技術分析工具。以下為Tosca系列產品的幾大特點介紹：??自動激光對準?Tosca 系列提供完全自動化的激光對準功能：在壓電陶瓷驅動器中安裝好懸臂梁后，用戶只需在控制
原子力顯微鏡的原理
原子力顯微鏡用一個探針在樣品表面移動，根據探針的振動在測定樣品表面的起伏。這就類似你用手觸摸感受物體表面的光滑程度，所以當然不需要樣品導電。
原子力顯微鏡及其應用
????? 原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規
原子力顯微鏡測量架構
原子力顯微鏡測量架構AFM 的探針一般由懸臂梁及針尖所組成，主要原理是由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂梁產生微細位移，以測得表面結構形狀，其中最常用的距離控制方式為光束偏折技術。AFM 的主要結構可分為探針、偏移量偵測器、掃描儀、回饋電路及計算機控制系統五大部分。AFM 探針長度只有幾微米長，探針
原子力顯微鏡的原理
原子力顯微鏡：是一種利用原子,分子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的新型實驗技術.它有一根納米級的探針,被固定在可靈敏操控的微米級彈性懸臂上.當探針很靠近樣品時，其頂端的原子與樣品表面原子間的作用力會使懸臂彎曲，偏離原來的位置.根據掃描樣品時探針的偏離量或振動頻率重建三維圖像.就能間接獲得樣品表
原子力顯微鏡工作原理
如下：原子力顯微鏡的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定。帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢
原子力顯微鏡的好處
我們前面已經提到，原子力顯微鏡的測量依靠的是針尖與物體表面之間的相互作用，而這種相互作用是廣泛存在于各種分子或者原子之間的，所以原子力顯微鏡可以直接測量幾乎各種表面的結構而不需要像電子顯微鏡那樣做特殊的樣品處理，同時原子力顯微鏡也不像電子顯微鏡那樣需要一個高真空的環境。這不僅節省了大量的時間精力，而
原子力顯微鏡工作模式
?原子力顯微鏡工作模式? ? ? ?原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式、非接觸模式和敲擊模式。? ? ? ?1、接觸模式從概念上來理解，接觸模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那樣，AFM在整個掃描成像過程之中，探針針尖始終與樣
原子力顯微鏡使用分析
實驗概要了解原子力顯微鏡的基本結構和原理。掌握原子力顯微鏡對固體和粉末樣品的要求及制作方法。掌握原子力顯微鏡使用方法。實驗原理原子力顯微鏡的優點是：有較高的放大倍數，20-20萬倍之間連續可調；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；試樣制備簡單。1. 儀器結
原子力顯微鏡的由來
原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 掃描隧道顯微鏡）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 發明。1