JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享應用
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-62771133,13552241797,875678734@qq.com）劉興濤（010-62795910,13910534338,liuxingtao@tsinghua.edu.cn）分類標簽：能譜 EDS 掃描電鏡 形貌觀察 場發射掃描電鏡 顯微鏡 SEM技術指標：加速電壓：0.1-30kV；探測器：SE，BSE；分辨率：1.2nm/15kV； 能譜探測范圍：B4-U92知名用戶：清華大學，中國地質大學（北京），北京航空航天大學，北京科技大學，中科院過程所技術團隊：掃描電鏡儀器開放管理團隊由一名事業編制教工主管（主管七臺儀......閱讀全文
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享應用
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
清華大學儀器共享平臺JEOL日本電子場發射掃描電鏡
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
清華大學儀器共享平臺JEOL－日本電子場發射掃描電鏡
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
清華大學儀器共享平臺JEOL－日本電子場發射掃描電鏡
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
清華大學儀器共享平臺JEOL－日本電子場發射掃描電鏡
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：樣品要求：固體樣品（塊狀或粉末）。塊狀樣品橫向距離小于26mm，高度小于10mm。樣品不能有磁性。預約說明：取消預約需提前48小時。為提高儀器使用效率，每次最少預約時間為2小時。所屬單位：材
FEI－場發射環境掃描電鏡共享
儀器名稱：場發射環境掃描電鏡儀器編號：06011403產地：荷蘭生產廠家：FEI型號：QUANTA 200 FEG出廠日期：200607購置日期：200611所屬單位：機械系>摩擦學國家重點實驗室>SEM FIB放置地點：李兆基科技大樓A510室固定電話：010-62772522固定手機：固定ema
FEI熱場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：熱場發射掃描電鏡儀器編號：15008701產地：捷克生產廠家：FEI Company型號：Quanta 450 FEG出廠日期：201505購置日期：201505所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析放置地點：微納平臺光刻間固定電話：01062784044-216固定手機：135
JEOL－JSM－6301F場發射掃描電子顯微鏡－共享
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
場發射掃描電子顯微鏡－JEOL－JSM－6301F共享
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
ZEISS高分辨場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：高分辨場發射掃描電鏡儀器編號：20009957產地：英國生產廠家：ZEISS型號：GeminiSEM 300出廠日期：購置日期：2020-08-26所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析放置地點：微電子與納電子學系一層微納加工平臺固定電話：01062784044-216固定手機：
日本電子掃描電鏡共享
儀器名稱：掃描電鏡儀器編號：02012309產地：日本生產廠家：日本電子公司型號：JSM-6460LV出廠日期：200208購置日期：200210所屬單位：材料學院>先進材料薄膜材料實驗室放置地點：逸夫技科樓1134室固定電話：固定手機：固定email：聯系人：曾飛（010-62795373,186
Zeiss－Merlin高性能場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：高性能場發射掃描電鏡 Zeiss Merlin儀器編號：16005773產地：德國生產廠家：Zeiss型號：Merlin出廠日期：201306購置日期：201603樣品要求：常規樣品：1.類型：固體、真空下無揮發物；??????????????? 2.尺寸：一般直徑小于80mm，高度小于3
日本電子推出新型場發射掃描電鏡JSM7200F
分析測試百科網訊 2015年9月2日，日本電子于皮博迪推出一款新型場發射掃描電鏡JSM-7200F。日本電子JSM-7200F掃描電鏡在1.0kV的條件下擁有1.6nm的超高空間分辨率和300nA的高探針電流。此外，日本電子JSM-7200F掃描電鏡緊湊的外觀設計方
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
清華大學儀器共享平臺JEOL－JSM－6301F場發射掃描電子顯微鏡
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
清華大學儀器共享平臺JEOL－JSM－6301F－場發射掃描電子顯微鏡
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
清華大學儀器共享平臺JEOL－JSM－6301F－場發射掃描電子顯微鏡
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
清華大學儀器共享平臺JEOL－JSM－6301F－場發射掃描電子顯微鏡
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
清華大學儀器共享平臺JEOL－JSM－6301F－場發射掃描電子顯微鏡
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
清華大學儀器共享平臺JEOL－2100F－場發射透射電子顯微鏡
儀器名稱：2100F場發射透射電子顯微鏡儀器編號：16044975產地：日本生產廠家：日本電子型號：JEM-2100F出廠日期：2016.2購置日期：201612所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>透射電子顯微鏡（TEM）分室放置地點：逸夫樓A129固定電話：010-62782758固定手機
清華大學儀器共享平臺JEOL－2100F場發射透射電子顯微鏡
儀器名稱：2100F場發射透射電子顯微鏡儀器編號：16044975產地：日本生產廠家：日本電子型號：JEM-2100F出廠日期：2016.2購置日期：201612所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>透射電子顯微鏡（TEM）分室放置地點：逸夫樓A129固定電話：010-62782758固定手機
清華大學儀器共享平臺JEOL－2100F－場發射透射電子顯微鏡
儀器名稱：2100F場發射透射電子顯微鏡儀器編號：16044975產地：日本生產廠家：日本電子型號：JEM-2100F出廠日期：2016.2購置日期：201612所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>透射電子顯微鏡（TEM）分室放置地點：逸夫樓A129固定電話：010-62782758固定手機
場發射掃描電鏡
用運載火箭發射航天器，不是任何時候都可以進行，有年份、月份、日期和時刻的選擇。比如，哈雷彗星以76年為周期回歸，哈雷彗星探測器應選在其回自太陽的幾個連續年份中發射；火星與地球的會合周期為780天，火星探測器應在火星與地球會合前后連續的幾個月份中發射；有些航天器必須在某個月內連續的幾天中發射；由于工作
Hitachi－S5500高分辨場發射掃描電鏡－共享
儀器名稱：高分辨場發射掃描電鏡 Hitachi S-5500儀器編號：08005387產地：日本生產廠家：日立公司型號：S-5500出廠日期：200511購置日期：200804樣品要求：掃描樣品：樣品臺尺寸4mmx7mm（最大5mmx9mm）透射樣品：直徑3mm銅網或同尺寸的薄樣品。所屬單位：材料學
清華大學儀器共享平臺場發射環境掃描電鏡
儀器名稱：場發射環境掃描電鏡儀器編號：06011403產地：荷蘭生產廠家：FEI型號：QUANTA 200 FEG出廠日期：200607購置日期：200611所屬單位：機械系>摩擦學國家重點實驗室>SEM FIB放置地點：李兆基科技大樓A510室固定電話：010-62772522固定手機：固定ema
清華大學儀器共享平臺FEI－場發射掃描電鏡
儀器名稱：場發射掃描電鏡儀器編號：05002783產地：荷蘭生產廠家：FEI型號：Sirion200出廠日期：200403購置日期：200502所屬單位：物理系>納米中心>納米中心測試平臺放置地點：納米樓電鏡室固定電話：固定手機：固定email：聯系人：顧小華（010-62792435,136830
清華大學儀器共享平臺場發射環境掃描電鏡
儀器名稱：場發射環境掃描電鏡儀器編號：06011403產地：荷蘭生產廠家：FEI型號：QUANTA 200 FEG出廠日期：200607購置日期：200611所屬單位：機械系>摩擦學國家重點實驗室>SEM FIB放置地點：李兆基科技大樓A510室固定電話：010-62772522固定手機：固定ema
高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機