安科慧生亮相BCEIA2025：雙核心技術展現國產XRF硬實力

　　2025年9月10-12日，第二十一屆北京分析測試學術報告會暨展覽會（BCEIA 2025）在北京盛大召開。適逢BCEIA創辦40周年，大會以“輝煌四十載 再譜新篇章”為主題，匯聚了來自世界各地的專家學者、企業代表和行業同仁，共同見證了分析測試領域的最新進展與未來圖景。

　　本屆展會上，國產儀器企業的創新活力與技術實力成為展會焦點。其中，北京安科慧生科技有限公司（簡稱“安科慧生”）攜帶雙源單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀MEGREZ-α、MEGREZ-β以及手持式X射線熒光光譜儀“傲世派”亮相此次展會，憑借突出的技術優勢引發廣泛關注。分析測試百科網采訪了安科慧生總經理滕飛，他深度解讀了安科慧生的核心技術、產品應用與發展規劃。

安科慧生展臺

安科慧生總經理滕飛

　　自2013年成立以來，安科慧生便一直專注于 X 射線熒光光譜儀的研發，致力于核心技術突破，現已在該領域取得多項關鍵成果。2021年安科慧生參與國家自然科學基金委儀器專項“全元素高靈敏度X射線熒光光譜儀研制”，2022年安科慧生研制的單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀榮獲“朱良漪分析儀器創新成果獎”。

兩項核心技術，筑牢自主創新根基

　　談及企業的核心技術，滕飛重點提及兩項：

　　第一項是全聚焦型雙曲面彎晶技術（Johans-son-type DCC）。在安科慧生成功研制前，全球僅有美國一家公司實現雙曲面彎晶的商品化；而安科慧生成為全世界第二家掌握該技術的企業，并將其成功應用于各型號儀器中。借助這項核心技術，X 射線熒光光譜儀的元素分析靈敏度大幅提升，檢出限相比通常的能量色散型儀器降低了一到兩個數量級，元素分析范圍也得以拓展，可從碳元素覆蓋至鈾元素。

　　第二項是全息基本參數法（Holospec FP?）。安科慧生是國內首家完成基本參數法編制與產品化的企業，其研發的全息基本參數法更是當前 X 射線熒光光譜儀行業的研發熱點。由于 X 射線熒光光譜儀在應用中會有各種物理學的不確定效應，比如基體效應、元素間吸收增強效應、探測器效應等，易產生定量誤差與不確定性；而基本參數法能將 X 射線熒光光譜儀的整個物理學過程數字化，通過基本參數庫與一系列數學模型，用數學語言對該過程進行精準描述。

　　相較于其他基本參數法，安科慧生的全息基本參數法具備四大特點：一是快速，儀器可一邊采集譜圖一邊進行計算，譜圖采集完成時，計算也同步結束；二是可視化，譜圖出峰、擬合過程，以及基本參數法應用開發的全過程，均對客戶開放，實現可視化呈現；三是全譜擬合，從元素特征譜圖到散射譜均進行擬合，可實現全元素定量分析；四是達到無標定量精度，對常量元素的相對誤差可控制在 10% 以內，對微量與痕量元素的相對誤差可控制在20%-25%，能充分滿足科研等領域客戶對元素定量分析的需求。

MEGREZ-α 與 MEGREZ-β：雙源單波長旗艦產品

　　采訪中，滕飛詳細介紹了此次展會的核心參展產品——MEGREZ-α 與 MEGREZ-β，這兩款儀器同屬安科慧生旗艦產品，榮獲 “2022 年朱良漪分析儀器創新成果獎” 。

MEGREZ-α

MEGREZ-β

　　“這兩臺儀器的核心優勢在于采用了雙光源設計，也就是配備兩個 X 射線管，能將 X 射線管靶材的特征射線通過雙曲面彎晶進行單色化聚焦后照射樣品。這種雙光管與雙曲面彎晶結合的技術，是全世界獨創的，也是目前唯一實現產品化的技術。” 滕飛說道。

　　而 MEGREZ-α 與 MEGREZ-β，除了X 射線管靶材類型和雙曲面彎晶類型不同之外，它們的照射方式不同。其中，MEGREZ-α 采用上照式設計，更適合粉體與固體樣品的分析，同時也可適配液體樣品；MEGREZ-β 則采用側照式設計，更適用于液體樣品分析。這是因為液體樣品易出現揮發、沉淀結晶等問題，可能影響其他測試方式的精度，而側照式設計能有效減少或避免這類影響。

新品：手持式 X 射線熒光光譜儀 “傲世派”

　　除了雙源單波長系列旗艦產品，安科慧生此次還帶來了多款 X 射線熒光光譜儀新品與系列產品。

傲世派 Alioth-π

　　滕飛重點介紹了今年推出的手持式 X 射線熒光光譜儀 “傲世派”（Alioth-π）。傲世派是當前世界上最輕的手持式 X 射線熒光光譜儀，且是唯一采用手機控制的同類產品。手機控制設計一方面可減少輻射影響（用戶可手持手機，與光譜儀保持一定距離），另一方面，因儀器的基本算法對算力要求較高，普通便攜式設備難以滿足需求，而手機的算力可完美匹配全新算法的計算需求。

　　同時，安科慧生還擁有一系列便攜式熒光光譜儀，既可用于現場檢測，也可在實驗室場景中使用。

多行業客戶認可，技術落地見實效

　　在客戶應用方面，滕飛表示，安科慧生的產品開拓的應用領域有礦產冶煉、鋰電池材料、環境保護、食品安全、制藥等。其中，在鋰電池材料領域，面對行業 “降本增效” 需求日益提升的現狀，MEGREZ-α 與 MEGREZ-β 憑借出色的測試速度與重復性精度，極大地滿足了鋰電池材料行業對元素分析的需求，為寧德時代、比亞迪等企業提供了切實的降本增效價值；在軍工航天領域，企業已向某研究院交付多臺儀器，用于鍍層厚度檢測與材料元素成分分析，為其科研與工藝過程提供可靠的數據支撐。

　　此外，眾多高校也將安科慧生的產品作為元素分析的主要手段，如清華大學分析測試中心、山東大學生命科學學院、南京大學分析測試中心、南京理工大學、山西大學等，均采購了雙源單波長激發-能量色散 X 射線熒光光譜儀。

聚焦技術升級，規劃元素成像新方向

　　安科慧生的產品系列以北斗七星序列命名，這十余年來，安科慧生依次點亮了DUBHE、MERAK、PHECDA、MEGREZ、ALIOTH，形成體系化產品矩陣。談及未來發展，滕飛表示，安科慧生將繼續深耕 X 射線熒光光譜領域，進一步提升 X 射線熒光光譜儀的元素分析范圍與精度。同時，企業已規劃元素成像產品的研發，計劃將 X 射線光束聚焦到幾十微米范圍以內，再與顯微鏡等成像裝置結合，打造元素成像系統，為行業提供更前沿的分析解決方案。

　　關于安科慧生

　　北京安科慧生科技有限公司是集研發、生產、銷售為一體的高新技術企業，公司研發團隊擁有多年的X射線熒光研發經驗，將先進的設計理念與尖端X射線熒光技術相結合，致力于研制世界高水平X射線熒光光譜儀。公司參與了十幾項國家、行業以及團體標準制訂工作，已獲得X射線熒光光譜發明專利8項，實用新型專利和軟件著作權20多項，參與省部級研發項目5項，2021年承擔國家自然科學基金委重大儀器專項“全元素高靈敏度X射線熒光光譜儀研制（批準號：62127816）“。單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀榮獲2022年度“朱良漪分析儀器創新成果獎”，雙源單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀MEGREZ-α榮獲2022年度“科學儀器行業優秀新品獎”。