福建農林大學透射電子顯微鏡采購中標公布
一、項目編號：[350001]CCZB[GK]2025007 二、項目名稱：福建農林大學透射電子顯微鏡采購項目 三、采購結果 采購包1: 四、主要標的信息 采購包1(透射電子顯微鏡): 貨物類（廈門外圖進出口有限公司） 五、評審專家名單： 采購人代表：洪倩 評審專家：沈汪明 、 黃榮捷 、 林鴻 、 曾元輝 六、代理服務收費標準及金額： 代理服務費收費標準： ①服務費：A、本項目招標代理服務費由中標人支付。B、代理服務費收費標準：以中標金額作為計算基數，按差額定率累進法計算收取代理服務費。招標代理服務費收費標準具體如下：中標金額（萬元）100萬以下收費費率標準 0.9% ；100～500萬元收費費率標準0.66%。C、中標人應在領取中標通知書的同時按中標金額及服務費收費標準向代理機構繳納服務費。中標人應在領取中標通知書前以轉賬、電匯付款方式一次性向招標代理人繳納招標代理服務費。（以下賬號只能轉中標服務......閱讀全文
透射電子顯微鏡的簡介
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射
透射電子顯微鏡的應用
透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體
透射電子顯微鏡的結構
透射電子顯微鏡的結構 透射電子顯微鏡結構包括兩大部分：主體部分為照明系統、成像系統和觀察照相室;輔助部分為真空系統和電氣系統。 1、照明系統 該系統分成兩部分：電子槍和會聚鏡。電子槍由燈絲(陰極)、柵級和陽極組成。加熱燈絲發射電子束。在陽極加電壓，電子加速。陽極與陰極間的電位差為總的加速電壓
透射電子顯微鏡的簡介
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真空系
透射電子顯微鏡之電子相關介紹
理論上，光學顯微鏡所能達到的最大分辨率，d，受到照射在樣品上的光子波長λ以及光學系統的數值孔徑，NA，的限制： 二十世紀早期，科學家發現理論上使用電子可以突破可見光光波波長的限制（波長大約400納米-700納米）。與其他物質類似，電子具有波粒二象性，而他們的波動特性意味著一束電子具有與一束電磁
透射電子顯微鏡電子波（束）特性原理
電子波（束）特性 為了提高顯微鏡的分辨本領，就需要尋找波長更短的光波作照明。1924年法國學者德.布羅依(De.Broglie)等人創立了波動力學，提出了物質波的概念，指出高速運動的粒子不僅具有粒子性，而且具有波動性。這個假設不久就為電子衍射實驗所證實。衍射是波動的特性，高速運動的電子能發生衍射，
關于透射電子顯微鏡電子源的介紹
從上至下，TEM包含有一個可能由鎢絲制成也可能由六硼化鑭制成的電子發射源。對于鎢絲，燈絲的形狀可能是別針形也可能是小的釘形。而六硼化鑭使用了很小的一塊單晶。通過將電子槍與高達10萬伏-30萬伏的高電壓源相連，在電流足夠大的時候，電子槍將會通過熱電子發射或者場電子發射機制將電子發射入真空。該過程通
透射電子顯微鏡的電子的相關介紹
理論上，光學顯微鏡所能達到的最大分辨率，d，受到照射在樣品上的光子波長λ以及光學系統的數值孔徑，NA，的限制： 二十世紀早期，科學家發現理論上使用電子可以突破可見光光波波長的限制（波長大約400納米-700納米）。與其他物質類似，電子具有波粒二象性，而他們的波動特性意味著一束電子具有與一束電磁
透射電子顯微鏡之電子源相關介紹
從上至下，TEM包含有一個可能由鎢絲制成也可能由六硼化鑭制成的電子發射源。對于鎢絲，燈絲的形狀可能是別針形也可能是小的釘形。而六硼化鑭使用了很小的一塊單晶。通過將電子槍與高達10萬伏-30萬伏的高電壓源相連，在電流足夠大的時候，電子槍將會通過熱電子發射或者場電子發射機制將電子發射入真空。該過程通
透射電子顯微鏡電子槍的相關簡介
還有一種新型的電子槍場發射式電子槍，由1個陰極和2個陽極構成，第1陽極上施加一稍低（相對第2陽極）的吸附電壓，用以將陰極上面的自由電子吸引出來，而第2陽極上面的極高電壓，將自由電子加速到很高的速度發射出電子束流。這需要超高電壓和超高真空為工作條件，它工作時要求真空度達到10-7Pa，熱損耗極小，
透射電子顯微鏡電子槍陰極相關簡介
照明系統包括電子槍和聚光鏡2個主要部件，它的功用主要在于向樣品及成像系統提供亮度足夠的光源，電子束流，對它的要求是輸出的電子束波長單一穩定，亮度均勻一致，調整方便，像散小。 陰極 陰極是產生自由電子的源頭，一般有直熱式和旁熱式2種，旁熱式陰極是將加熱體和陰極分離，各自保持獨立。在電鏡中通常由加
透射電子顯微鏡成像設備簡介
TEM的成像系統包括一個可能由顆粒極細（10-100微米）的硫化鋅制成熒光屏，可以向操作者提供直接的圖像。此外，還可以使用基于膠片或者基于CCD的圖像記錄系統。通常這些設備可以由操作人員根據需要從電子束通路中移除或者插入通路中。
透射電子顯微鏡TEM系統組件
電子槍：發射電子，由陰極、柵極、陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速、加壓的作用。 ● 聚光鏡：將電子束聚集，可用已控制照明強度和孔徑角。 ● 樣品室：放置待觀察的樣品，并裝有傾轉臺，用以改變試樣的角度，還有裝配加熱、冷卻等設
透射電子顯微鏡的功能特點
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。
透射電子顯微鏡的結構組成
TEM系統由以下幾部分組成電子槍：發射電子，由陰極、柵極、陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速、加壓的作用。聚光鏡：將電子束聚集，可用于控制照明強度和孔徑角。樣品室：放置待觀察的樣品，并裝有傾轉臺，用以改變試樣的角度，還有裝配加熱、冷卻等
透射電子顯微鏡真空系統簡介
電鏡鏡筒內的電子束通道對真空度要求很高，電鏡工作必須保持在10-3～10Pa以上的真空度（高性能的電鏡對真空度的要求更達10Pa以上），因為鏡筒中的殘留氣體分子如果與高速電子碰撞，就會產生電離放電和散射電子，從而引起電子束不穩定，增加像差，污染樣品，并且殘留氣體將加速高熱燈絲的氧化，縮短燈絲壽命
透射電子顯微鏡的結構組成
TEM系統由以下幾部分組成?電子槍：發射電子，由陰極、柵極、陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速、加壓的作用。聚光鏡：將電子束聚集，可用于控制照明強度和孔徑角。樣品室：放置待觀察的樣品，并裝有傾轉臺，用以改變試樣的角度，還有裝配加熱、冷卻
透射電子顯微鏡的成像原理
透射電子顯微鏡的成像原理可分為三種情況：吸收像：當電子射到質量、密度大的樣品時，主要的成相作用是散射作用。樣品上質量厚度大的地方對電子的散射角大，通過的電子較少，像的亮度較暗。早期的透射電子顯微鏡都是基于這種原理。衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不同位置的衍射波振幅分布對應于樣品中晶體各部分不同的衍
透射電子顯微鏡像散的產生
像散（指軸上像散）的產生除了前面介紹的材質、加工精度等原因以外，實際上在使用過程中，會因為各部件的疲勞損耗、真空油脂的擴散沉積、以及生物醫學樣品中的有機物在電子束照射下的熱蒸發污染等眾多因素逐漸積累，使得像散也在不斷變化。所以像散的消除在電鏡制造和應用之中都成了必不可少的重要技術。
透射電子顯微鏡TEM成像原理
透射電子顯微鏡的成像原理 可分為三種情況： ● 吸收像：當電子射到質量、密度大的樣品時，主要的成相作用是散射作用。樣品上質量厚度大的地方對電子的散射角大，通過的電子較少，像的亮度較暗。早期的透射電子顯微鏡都是基于這種原理。 ● 衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不同位置的衍射波振幅分布對應
透射電子顯微鏡的系統組件
電子槍：發射電子，由陰極、柵極、陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速、加壓的作用。聚光鏡：將電子束聚集，可用于控制照明強度和孔徑角。樣品室：放置待觀察的樣品，并裝有傾轉臺，用以改變試樣的角度，還有裝配加熱、冷卻等設備。物鏡：為放大率很高的
透射電子顯微鏡樣品桿分類
? 透射電子顯微鏡（TEM）是利用高能電子束充當照明光源而進行放大成像的大型顯微分析設備。透射電子顯微鏡樣品桿有以下3種分類：? 1、氣氛桿：? 氣氛桿能夠突破現有透射電鏡對于真空度要求的限制，在一個完全封閉的氣體系統中，研究透射電鏡內的氣相反應過程，如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應情況。并結合控溫
透射電子顯微鏡的基本構造
透射電子顯微鏡的基本構造透射電子顯微鏡基本構造示意圖 透射電子顯微鏡各重要部件及其作用： 電子槍：發射高能電子束，提供光源； 聚光鏡：將發散的電子束會聚得到平行光源； 樣品桿：裝載需觀察的樣品； 物鏡：電子顯微鏡最關鍵的部分，起到聚焦成像一次放大的作用； 中間鏡：二次放大，并控制成像模
透射電子顯微鏡的功能介紹
因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學顯微鏡相仿，可以直接獲得一個樣本的投影。通過改變物鏡的透鏡系統人們可以直接放大物鏡的焦點的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個像可以分析樣本的晶體結構。在這種電子顯微鏡中，圖像細節的對比度是由樣品的原子對電子束的散射形成的。由于電子需
概述透射電子顯微鏡衍射模式
通過調整磁透鏡使得成像的光圈處于透鏡的后焦平面處而不是像平面上，就會產生衍射圖樣。對于單晶體樣品，衍射圖樣表現為一組排列規則的點，對于多晶或無定形固體將會產生一組圓環。對于單晶體，衍射圖樣與電子束照射在樣品的方向以及樣品的原子結構有關。通常僅僅根據衍射圖樣上的點的位置與觀測圖像的對稱性就可以分析
透射電子顯微鏡的成像原理
透射電子顯微鏡的成像原理 [3] 可分為三種情況： 吸收像：當電子射到質量、密度大的樣品時，主要的成相作用是散射作用。樣品上質量厚度大的地方對電子的散射角大，通過的電子較少，像的亮度較暗。早期的透射電子顯微鏡都是基于這種原理。 衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不同位置的衍射波振幅分布對應于樣
掃描透射電子顯微鏡的來源
掃描透射電子顯微鏡是指透射電子顯微鏡中有掃描附件者，尤其是指采用場發射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點而出現的一種新型分析方式。 掃描透射電子顯微鏡是透射電子顯微鏡的一種發展。掃描線圈迫使電子探針在薄膜試樣上掃描，與掃描電子顯微鏡不
簡介透射電子顯微鏡相襯技術
晶體結構可以通過高分辨率透射電子顯微鏡來研究，這種技術也被稱為相襯顯微技術。當使用場發射電子源的時候，觀測圖像通過由電子與樣品相互作用導致的電子波相位的差別重構得出。然而由于圖像還依賴于射在屏幕上的電子的數量，對相襯圖像的識別更加復雜。然而，這種成像方法的優勢在于可以提供有關樣品的更多信息。
掃描透射電子顯微鏡的優點
1. 利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。2. 利用掃描透射模式時物鏡的強激勵，可以實現微區衍射。3. 利用后接能量分析器的方法可以分別收集和處理彈性散射和非彈性散射電子。4. 進行高分辨分析、成像及生物大分子分析。
對透射電子顯微鏡的了解
使得透射電子顯微鏡的功能進一步的拓寬，尤其是可以針對同一微區位置進行形貌、原位的電子衍射分析(Diff)早期的透射電子顯微鏡功能主要是觀察樣品形貌、低溫臺和拉伸臺、背散射電子像BED)和透射掃描像(STEM)、成分(價態)的全面分析，透射電子顯微鏡還可以在加熱狀態。具有能將形貌和晶體結構原位觀察的兩