X射線能譜分析過程、原理
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電流脈沖，電流脈沖的高度取決于N的大小。電流脈沖經過主放大器轉換成電壓脈沖進入多道脈沖高度分析器，脈沖高度分析器按高度把脈沖分類進行計數，這樣就可以描出一張X射線按能量大小分布的圖譜。......閱讀全文
電子探針X射線微區分析能譜儀分析特點
具有以下優點（與波譜儀相比） 能譜儀探測X射線的效率高。 在同一時間對分析點內所有元素X射線光子的能量進行測定和計數，在幾分鐘內可得到定性分析結果，而波譜儀只能逐個測量每種元素特征波長。 結構簡單，穩定性和重現性都很好（因為無機械傳動），不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，適于粗糙表面分析。
X射線能譜巖芯掃描分析技術的研究開發
XRF(X射線熒光光譜分析)巖芯掃描方法,是一種非破壞性的、高效的巖芯元素組成分布的XRF分析測試方法。我們研制的國內第一臺XRF巖芯掃描儀將傳統的點數據改為線掃描面積型數據,使數據對樣品元素組成的變化趨勢描述的更加準確,清晰,結合計算機數據分析,可以提供可靠的趨勢數據。?
硫化物X射線能譜定量分析探討
７１１－Ｆ型能譜儀對常見硫化物（黃鐵礦、磁黃鐵礦、方鉛礦、閃鋅礦等）元素定量分析的條件試驗結果表明，一定要選擇好儀器的最佳試驗條件；保證分析樣品的質量，排除影響元素定量分析精度的因素。經反復條件試驗，獲得硫化物的最佳試驗測試參數：電壓２５ｋＶ、束流６４μＡ、束斑０．１２５μｍ、計數率２３００ｃ／ｓ、
軟骨鈣化的X射線能譜半定量分析
軟骨的鈣化過程實質上是鈣鹽在軟骨內沉積的積累過程。盡管人們一直關注這個問題,但并未完全清楚。本文利用透射電鏡觀察了鈣鹽在軟骨細胞內外沉積的部位和形態,利用 X 射線能譜儀對沉積鈣鹽的 Ca- P 強度、濃度和摩爾數進行了半定量分析。
用X射線能譜(TEM)分析晶界偏析的方法
本文利用EM400T透射電子顯微鏡和EDAX9100能譜儀研究微量元素在晶界的偏聚。通過本文采用的電子束直徑小到40A的微探針,低背底樣品臺,沿晶界拉長束斑,分段積分等措施,明顯地提高了分析靈敏度。用這種方法測量了含磷820ppm的Si-Mn高強度鋼和含鎂94ppm的GH169高溫合金中P和Mg的晶
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?
X射線能譜過濾的MC模擬研究
能量低于300 keV且能譜簡單的穩定放射性核素較少,作為替代,利用X射線機產生X射線,并經過不同厚度的材料的過濾,可以得到用于對輻射防護儀器進行校準和確定其能量響應和角響應的一系列規定輻射質的參考輻射。由于材料的質量衰減系數與X射線在物質中各種作用過程有關,并強烈的依賴于光子的能量,基于這一物理現
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
應用X射線能譜儀檢驗原子印油
?原子印章是一種新型的印章。原子印章攜帶和使用極為方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊結構,其印油的成份不同于普通的印臺油及印泥。早期的原子印油多為國外進口,目前國內亦有一些廠家生產。我們應用掃描電子顯微鏡和 X 射線能譜儀對原子印油進行檢驗,獲得一些有用的信息。
軟X射線能譜儀數據采集系統
在 線 存 儲 軟X射線能譜儀的結構框圖見圖1。不同能量的軟X射線被Johann彎晶衍射分光,分光后的能量分布轉化成在探測器上對應的位置分布。位置靈敏、時間分辨好的MWPC和MCP都可做為這種探測器。軟X射線區適用的MWPC采用逐絲陽極讀出法以允許高計數率,同時也是為了滿足將可測能區延伸到更低能區時
太陽耀斑硬X射線能譜演變特征
太陽硬Ｘ射線是耀斑高能電子束流與太陽大氣相互作用產生的韌致輻射，根據簡單的太陽耀斑環物理模型，假定具有流量與能譜同步變化的高能電子束流從耀斑環頂部注入，計算了硬Ｘ射線輻射在不同的靶物質密度區的能譜演變特征．結果表明：硬Ｘ射線輻射在低大氣密度靶區呈現軟一硬一硬的能譜演變特征，在高密度靶區硬Ｘ射線能譜則
X射線光電子能譜（－XPS）
XPS：X射線光電子能譜分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)測試的是物體表面10納米左右的物質的價態和元素含量，而EDS不能測價態，且測試的深度為幾十納米到幾微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。?原理：用X射線去輻射樣品，使原子或分子
x射線光電子能譜的基本原理
射線光子的能量在1000～1500 ev之間,不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來,內層電子的能級受分子環境的影響很小。同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小,故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子,利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。XPS的原理是用
x射線光電子能譜的基本原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。XPS的原理是
x射線光電子能譜的基本原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。XPS的原理是
x射線光電子能譜的基本原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。XPS的原理是
硯石的X射線能譜分析
用 X射線能譜儀對一系列硯石樣品進行成分分析得知硯石主要含鋁、硅、鈣、鐵、鉀等元素 ,為硯石的成因研究打下基礎 ,指出硯石成因研究有助于某些地球課題的深化。?
不銹鋼X射線能譜定量分析方法研究
配備X射線能譜儀的掃描電子顯微鏡不僅能夠觀察材料的微觀形貌還可對微區成分進行分析，現已廣泛應用于材料分析測試領域。提高能譜儀定量分析的準確度，是科學研究和工業生產的重要課題。本論文對能譜儀的物理基礎、工作原理、定性分析、定量分析等方面進行了闡述，并圍繞如何獲得不銹鋼標樣定量分析的最佳工作條件以及提高
CdZnTe半導體探測器X射線能譜響應特性分析
CdZnTe是一種性能優異的高能射線探測材料,在空間科學、核安全以及核醫學等眾多領域有廣泛的應用前景.本文選取了3枚不同等級的CdZnTe探測器,在詳細闡述了CdZnTe探測器工作原理的基礎上,對比分析了他們的能譜響應曲線和載流子輸運特性的關系.重點分析了CdZnTe探測器能量分辨率、電荷收集效率和
表面層外全反射角X射線能譜微分析
電子探針微區分析(EPMA,XRMA)由于X射線激發深度較大而對薄層分析產生困難,無法準確確定分析結果是樣品表面的成分還是樣品體相的成分。本工作在通常的X射線微區分析設備上,采用外全反射角X射線能譜微分析方法,通過對硅襯底上不同膜厚的鋁膜和銅膜的測定,探索出一種區分膜成分和體相成分的新方法。結果表明
家貓針毛的形態研究和X射線能譜元素分析
本文對家貓針毛的形態結構進行了掃描電鏡（ＳＥＭ）觀察，并且利用Ｘ 射線能譜儀（ＥＤＡＸ）分別對鱗片層、皮質層和髓質層進行了元素分析。結果表明：家貓針毛具有特殊的形態結構，針毛纖維各層間所含元素有明顯區別。可為家貓針毛的性能研究及鑒別提供依據。
PVC/PP共混體系的X射線能譜微區分析
用Ｘ射線能譜微區分析方法對ＰＶＣ／ＰＰ共混物進行了研究，得到了共混物斷面氯元素的面分布圖，并對面分布圖像進行了相分析，從亞微觀層次揭示了ＰＶＣ／ ＰＰ共混物的相結構．將面分布圖像與掃描電鏡（ＳＥＭ） 對ＰＶＣ／ＰＰ共混物的形態照片進行了比較．結果表明，元素面分布圖像比形態照片具有更清晰、直觀的特點，
多相體系銀焊條的X射線能譜定量分析
稀土銀焊條屬多相體系,它由低含量微細稀土氧化物彌散分布在銀基體中所組成。文獻[1][2]提出的多相體系樣品電子探針定量分析法均由樣品面掃描譜獲得實驗數據,對焊條中低含量的第二相元素,其峰強很低,實驗誤差大。因在銀焊條中:基體對第二相各元素無熒光效應;基體對第二相各元素的質量吸收系數相近,第二相各元素
X射線光電子能譜特性分析及其優缺點
X射線光電子能譜，簡稱XPS,別稱ESCAX射線光電子能譜學是近四十年來發展起來的一門綜合性學科。它與多種學科相互交叉，融合了物理學，化學，材料學，真空電子學，以及計算機技術等多學科領域。現代X射線光電子能譜學已經發展為一門獨立的，完整的學科。它是研究原子，分子和固體材料的有力工具。?優點:(1)可
關于x射線光電子能譜的系統結構原理介紹
X射線源是用Al或Mg作陽極的X射線管。 它們的光子能量分別是1486 eV和1254 eV 。 安裝過濾器（或稱單色器）是為了減小光子能量分散。 離子槍的作用一方面是為了濺射清除樣品表面污染，以便得到清潔表面，從而提高其分析的準確性。另一 方面，可以對樣品進行濺射剝離，以便分析不同深度下樣品
X射線光電子能譜技術（XPS）的系統結構原理
X射線源是用Al或Mg作陽極的X射線管。 它們的光子能量分別是1486 eV和1254 eV 。 安裝過濾器(或稱單色器)是為了減小光子能量分散。X射線光電子能譜儀(系統)結構原理離子槍的作用一方面是為了濺射清除樣品表面污染,以便得到清潔表面,從而提高其分析的準確性。另一 方面,可以對樣品進行濺射剝
微分消卷積法在分析X射線能譜和衍射譜中的應用
x射線譜圖中,譜峰的重疊現象十分常見。本文應用微分消卷積法,對實測的譜圖進行消卷積處理,從而提高了x射線譜圖的分辨率,使原來重疊的譜峰得以分離,通過譜峰面積的計算,得到了它們的相對含量,與配置值基本符合。?
基于MARS系統的X射線能譜CT研究
X射線是19世紀末物理學的三大發現（X射線1895年、放射性1896年、電子1897年）之一，這一發現標志著現代物理學的誕生。由于X射線是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁輻射，因而它具有很高的穿透本領，能穿透許多對可見光不透明的物質，基于此，可用來幫助人們進行醫學診斷和治療，或者用于工業等領域的非破
用于高能X射線能譜測量的MLS法
為滿足高能X射線能譜測量的需要,提出采用MLS法進行能譜測量的方案。MLS法克服了其他測量方法散射不易控制、光場不均勻性影響較大的缺點,還具有對不同角度能譜進行測量的優勢。對MLS法的測量原理以及測量過程中的注意事項進行了明確,并利用蒙特卡羅方法針對一特定的X射線能譜設計了兩種不同介質的測量裝置,并