LEICADMFTP膜厚儀迎接微電子業新高潮

　　 最近，德國LEICA推出了新一代薄膜測厚儀DM-FTP以應對微電子，半導體產業的新高潮。該膜厚儀的先進性在于：

　　 最小光斑可達1微米

　　 既使用顯微光譜反射法又能使用白光干涉法進行測量半導體薄膜厚度

　　 德國LEICA頂尖的光學顯微鏡系統

　　 自動建模和海量光譜數據

　　 德國LEICA DM-FTP 顯微光譜薄膜測厚儀是對薄膜的反射光譜的干涉圖樣進行分析來進行膜厚測量，最小測量光斑可達1微米。該系統由德國LEICA INM100,INM200,INM300 DM4000M,DM6000M等顯微鏡和德國 SENTECH FTPADVANCE 膜厚測量模塊組成，由于它的快速運算，使得它可高重復率進行膜厚的光學測量以及對膜的相關計算。另外，它的新型自動建模功能：可為待測的樣品與光譜庫里的數據快速的比較，來自動建模。是真正適合半導體，液晶等微電子行業進行在線膜厚檢測新型高端儀器。

　　 LEICA DM-FTP膜厚儀還可使用白光干涉和雙光干涉進行膜厚測量。　　

　　技術參數：

　　測量方法：非接觸式

　　測量原理：反射光譜法

　　測量樣本大小：最大為12 inch -300mm

　　測量范圍：500?~ 20?(Depends on Film Type) 選配干涉測量模塊時最小30?

　　光斑尺寸：最小可達1微米

　　測量速度：300ms

　　準確性： 1nm (典型：400nm Sio2/Si)

　　精確度： 0.3nm (典型：400nm Sio2/Si)

　　光譜范圍： 450 – 920nm

　　應用領域：

　　半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS + Si, Ge, SiGe...

　　電解質: SiO2, TiO2, TaO5, ITO, ZrO2, Si3N4, Photoresist, ARC,...

　　平板行業：(包括 LCD, PDP, OLED, ): a-Si, n+-a-Si, Gate-SiNx MgO, Alq, ITO, PR, CuPc, NPB, PVK, PAF, PEDT-PSS, Oxide, Polyimide...

　　光學涂層：: 減反射膜, Color Filters...

　　太陽能電池 Doping a-Si(i-type, n-type, p-type), TCO(ZnO, SnO, ITO..)

　　聚合物: PVA, PET, PP, Dye, Npp, MNA, TAC, PR...

　　Recordable materials: Photosensitive drum, Video head, Photo masks, Optical disk