應用領域
半導體、微電子、MEMS、通訊、數據存儲、光學鍍膜、平板顯示器、科學研究、物理、化學、生物、醫藥[2]…
可測材料
半導體、介電材料、有機高分子聚合物、金屬氧化物、金屬鈍化膜、自組裝單分子層、多層膜物質和石墨烯等等[1]
分析測試百科網訊近日，HORIBA公司宣布推出新的模塊化橢偏儀——UviselPlus，旨在提高薄膜測量的靈活性。該設備配備了尖端的FastAcq采集技術，利用新的電子數據處理和高速單色儀，可以在三分......
光偏振現象的應用在日常生活中無處不在，比如液晶顯示屏、3D眼鏡等；在光伏、納米、半導體芯片等高端制造中，也常用到一種利用光偏振現象的儀器，那就是橢偏儀，它最拿手的就是測量納米級薄膜的厚度、折射率、消光......
