Nagashima等建立了薄層色譜快原子轟擊質譜的測定方法。先在LHP-K板上進行TLC,純化TTX及其衍生物,然后用質譜定量,最低檢出限為0.1g。此法可以區分在其它TLC方法中難以區分的TTX和脫水TTX,其優點還在于不需TMS硅烷化,甚至當被測物的TLC行為不清時也可以測定。1988年,王健偉研究建立了不需水解的薄層色譜(TLC)分析方法用于TTX的定量檢測。采用火焰離子檢測器,不需將TTX降解為C9堿,避免了衍生反應過程中可能存在的干擾。