本儀器是一種超小型的測量儀，它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。
主要功能
可進行零點校準及二點校準。
可對測頭進行基本校準。
設有五個統計量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV）。可存貯和統計計算15個測量值。具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。自動關機功能。刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。
技術指標
測量原理：渦流法
測量范圍：1～1250μm
測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準）
±[(1～3)%H+1.5] μm（二點校準）
2018年6月19日，英國牛津：日立分析儀器公司（日立分析儀器），是日立高新技術公司（TSE：8036）旗下一家從事分析和測量儀器的制造與銷售業務的全資子公司。今日，日立分析儀器拓展了XRF鍍層測厚儀......
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